Number of the records: 1
Atomic force microscopy
Main entry-name Haugstad, Greg, 1963- (author) Title statement Atomic force microscopy : understanding basic modes and advanced applications / Greg Haugstad Publication Hoboken : Wiley, a John Wiley & Sons, Inc., 2012 Phys.des. xxii, 464 stran : ilustrace ISBN 978-0-470-63882-8 (vázáno) Note Obsahuje bibliografie a rejstřík Subj. Headings mikroskopie atomárních sil nanotechnologie Form, Genre monografie Conspect 53 - Fyzika Country Spojené státy americké Language English URL http://www.loc.gov/catdir/enhancements/fy1215/2012003429-t.html Copy count 1, currently available 0 Database Naučná literatura 
book
Call number Track No. Location Sublocation Info 99134 484196 Knihovna IV Dlouhodobá výpůjčka - učitel
Number of the records: 1